第6回研究会
第6回研究会 特別講演『テストのテクノロジー：現況と将来展望』（開催案内）
H.I.ブラウン博士（ETS）
渡部 洋（東京大学大学院）
この12月に米国屈指のテストサービス・研究機関であるETS：Educational Testing ServiceのDr.ヘンリー・ブラウン先生（Henry I. Braun, Ph.D.）が来日されることになりました。この機会をとらえて、テスト学会主催にて特別講演会を催すこととなりました。ご講演は英語ですが、要約的通訳をブラウン先生とはかねてより研究交流のある東京工業大学大学院、前川眞一教授にお願いしてありますので、お気楽に参加いただければと思います。講演の題目は「テストのテクノロジー：現況と将来展望」ということで、ウェブの出現によるテスト配布様式の急激な変化の一方、テクノロジーがテスト作成のシステムの根本的変化をもたらしつつある現状をアセスメント・デザイン、項目作成、測定理論、及び自動採点等に焦点をあてつつ議論していただくことになりました。
さらに、東京大学大学院の南風原朝和教授には、ご講演の内容の解説や指定討論をお願いしておりますので、一層ご理解と討論を深めていただけるものと思います。
ご多忙中のことと存じますが、ぜひご参集いただきたくご案内申し上げます。
日時：2005年12月16日（金） 13:30～16:30
場所：東京大学農学部 弥生講堂（本郷キャンパス）
〒113-8654 文京区本郷7-3-1
プログラム：
特別講演『テストのテクノロジー：現況と将来展望』
Henry I. Braun, Ph.D. Distinguished Presidential Appointee Research & Development Division/Educational Testing Service
要約通訳 前川眞一（東京工業大学大学院社会理工学研究科教授）
解説･討論 南風原朝和（東京大学大学院教育学研究科教授）
司会 渡部 洋（東京大学大学院教育学研究科 教授）